会社概要
杭州新樹半導体有限公司
2024年に設立し、高品質な半導体用シリコン部品とシリコン材料を提供しています。当社チームは長年半導体装置部品業界に従事し、LAM Research、東京エレクトロン(TEL)、AMEC、NAURAのシリコン部品の設計・製造に携わってきました。

シリコン材料とシリコン部品に特化
新樹半導体は、半導体用シリコン材料(柱状多結晶シリコン、単結晶シリコン)およびシリコン部品(UGRリング、電極、コンファインメントリング)の研究開発・製造に特化しています。
ワイヤーソー、研削盤、マシニングセンタ、LAP/Polish機、精密検査装置、CMM、画像測定機、粗さ計、シリコン部品用高純度洗浄ラインなど多様な高精密設備を保有し、材料から加工、洗浄、クリーン梱包までの一貫したサービスを提供します。
2024
設立
20年以上
チームの業界経験
コアチーム
OEMのSPECと設計思想を深く理解したベテラン専門家

李長蘇 Chance Li
CEO
- 2010~2020: 杭州大和 シリコン部品事業部 責任者・事業部長
- 2020~2024: 盾源聚芯 総経理
張邦栄
材料事業部 副総経理
- 2014~2020: 申和ソーラー 事業部副総経理
- 2020~2023: 中欣晶圓 製造部長
饒開紅
シリコン部品製造 副総経理
- 2003-2024年:杭州大和および杭州大和江東新材料有限公司にて歴任
- 製造部長/技術部長/総経理補佐
生産拠点

杭州本社
Siltree Hangzhou HQ
本社。研究開発・営業・管理を担当

山西生産拠点
Siltree Shanxi Factory
山西省大同の結晶育成拠点。シリコン材料の生産を担当
生産・検査設備
充実した加工・検査能力
生産設備




検査設備




設備一覧
- ワイヤーソー
- Coredrill
- 研削盤
- マシニングセンタ
- LAP/Polish機
- CMM
- 画像測定機
- 粗さ計
- FT-IR Spectrometer
- ICP-MS
- 顕微鏡
- Box Furnace
- 抵抗率測定
- 高純度洗浄ライン
- 多結晶鋳造炉
- 単結晶引上炉